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2025年未来测试技术发展学术会议
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2025年未来测试技术发展学术会议 已过期
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会议介绍
会议以“未来测试技术”为主题，面向广大参会者征文，特邀赵贻玖教授担任专题主编，肖寅东教授担任专题副主编，并择优在《电子测量与仪器学报》（北大核心、CSCD核心、卓越期刊计划领军期刊）以专题形式进行发表，诚邀科研院所、企业技术团队及行业专家分享前瞻性研究成果。专题稿件涵盖主题可涉及以下相关方向（但不限于）：智能测试技术；大数据与测试分析；集成电路智能测试；量子测试技术；分布式测试；智能仪器设计；故障诊断与预测；智能制造与无人系统测试；智能传感与非电量测试。
全文提交截止日期：2025年4月30日（之后投稿的优秀论文将根据情况安排其他排期）；专题出版日期：2025年6月30日；征稿方式：学报官网注册登录投稿
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